|
Библиотека Случайная книга
Идеи, проекты, продукция |
Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем-360с. 
Автор: О.П. Глудкин Издательство: УДК: УДК 621.396.6.049.77, N-Г55 Язык: русский
|