Случайная книга

Image

Современная прикладная криптография



Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем-360с.

Image

Автор:  О.П. Глудкин
Издательство:  
УДК:  УДК 621.396.6.049.77, N-Г55
Язык:  русский