|
Библиотека Случайная книга
Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем-360с. |
Синтез RC-схем с активными невзаимными элементами-240с. 
Автор: П.А. Ионкин и др. Издательство: УДК: УДК 621.372.061, N-И75 Язык: русский
|