Случайная книга

Image

Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем-360с.



Сборник задач и упражнений по технологии РЭА -255 с.

Image

Автор:  под.ред.Е.М. Парфенов
Издательство:  
УДК:  УДК 621.396.6, N-Б12
Язык:  русский