|
Библиотека Случайная книга
Физические основы конструирования технологии РЭА и микроэлектроники-248стр. |
Логико-вероятностные методы исследования надежности структурно-сложных систем 
Автор: И.А. Рябинин Издательство: УДК: УДК 621.3.19., N-Р 98 Язык: русский
|