|
Библиотека Случайная книга
Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем-360с. |
Оптическая связь пер. с японского-384 с. 
Автор: п/р И.И Теумина Издательство: УДК: УДК 621.372.8, N-О60 Язык: русский
|