Случайная книга

Image

Приложение матриц и графов к анализу СВЧ устройств



Переходные процессы в транзисторных каскадах-245с.

Image

Автор:  Б.Н. Файзулаев
Издательство:  
УДК:  УДК 621.382.3, N-Ф17
Язык:  русский