|
Библиотека Случайная книга
Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем-360с. |
Контактные устройства для контроля изделий микроэлектроники-128с. 
Автор: А.А. Шабанов Издательство: УДК: УДК 621.316.5, N-Ш12 Язык: русский
|