|
Библиотека Случайная книга
Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем-360с. |
Теория и проектирование радиосистем – 448с. 
Автор: Л.В. Березин Издательство: УДК: УДК 621.396, N-Б48 Язык: русский
|